Roland Benoit, ICMN (Interfaces, Confinement, Matériaux et Nanostructures), Orléans

Roland Benoit a fait un exposé sur la technique de Tof-SIMS (Spectroscopie de Masse d’Ions Secondaires à Temps de Vol), une méthode d’analyse des surfaces (sur 2 à 5 Å). L’impact d’un faisceau dégrade l’échantillon en surface et libère des fragments chargés de molécules qui peuvent être identifiés dans le spectromètre de masse Tof (Time of Flight), jusqu’à des masses de 10 000 amu. Le résultat de l’analyse est une répartition des éléments chimiques à la surface de l’échantillon, donc une cartographie en 2D. Des sources cluster qui n’altèrent pas la composition chimique peuvent être utilisées pour décaper la surface de l’échantillon sur quelques microns avant de réitérer l’analyse, afin d’obtenir ainsi une caractérisation de plusieurs plans.

L’échantillon est sous la forme d’une lame mince de quelques mm de côté et d’épaisseur inférieure à 10 mm.